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【平成29年度 OPEN TECH シンポジウム ~電子機器・集積回路の信頼性に関する国際シンポジウムのご案内~】

2018.02.28

■ 開催日時:2018年3月19日(月)13:00~17:50

■ 開催場所:京都工芸繊維大学 60周年記念館(アクセス

■ 概  要:本学グリーンイノベーションセンター主催により、ソフトエラーなどの一時故障、BTIなどの経年劣化など電子機器や集積回路の信頼性

      に関する国際シンポジウム開催を開催いたします。

      CiscoのCharles Slayman氏は、元SunMicrosystemsの技術者でソフトエラー測定法の国際標準であるJESD 89Aを89Bに改定するWGの

      マネージメントを担う著名な研究者でソフトエラーに関するキーノート講演をいただきます。

      キーノートと招待講演者は下記の5名を予定しております。

      (協賛:IEEE SSCS Kansai Chapter、 IEEE SSCS Japan Chapter、学振165委員会)

 

■ キーノート

Dr. Charles Slayman (Cisco Systems)   

  数ナノメータ時代のセキュリティーと信頼性の相互作用

 

■ 招待講演

1. Prof. Chris Kim(ミネソタ大学 教授)   

  集積回路の劣化を正確に見積もることのできるSilicon Odometerの歴史について

2. Dr. Frank Schlaphof (グローバルファウンドリ)   

  SRAMのソフトエラー率の測定法

3. Dr. Souhir Mhira (Dr. Vincent Huardの代理発表) (STマイクロ)   

  経年劣化等の長期信頼性関連(予定)

4. Prof. Jinshun Bi (中国科学院微電子研究所)   

  フラッシュメモリなどのNVMの信頼性と放射線効果

 

※ 講演は英語で行います。ポスター.pdf

 

■ お申込み

どなたでも参加いただけますが、事前登録をお願い致します。

詳細と登録は http://www-vlsi.es.kit.ac.jp/SERconf/intconf2018/ (http://officepolaris.co.jp/INTCONF/index.htmlにリダイレクトします) よりお願い致します。

 

ポスター (2) (905x1280).jpg